Описание:
Электронная микроскопия UOS 6900 с использованием передовых международных технологий для оптимизации конструкции электронно-оптической колонки, использование конической линзы для улучшения разрешающей способности прибора, электронная пушка открытого типа, удобная замена нити накала; благодаря новой электрической системе управления и ряду автоматических функций управления (например, внешний вид клавиши), множеству интерфейсов, подходящих для подключения различных аксессуаров к вашему устройству, программируемому коэффициенту усиления полосы пропускания, это высокопроизводительная сканирующая электронная микроскопия, предоставляющая пользователям более широкое поле разработки приложений.
Особенности
Высокое разрешение и более высокое качество изображения
Вольфрамовый катод с стержневой структурой волосяной вилки
Английский интерфейс с ключевой функцией отображения
Функция автоматической настройки: нагрев электронной пушки, смещение, выравнивание, фокусировка, яркость, контрастность, степень рассеивания, астигматизм и другие запоминающие устройства Автоматическая калибровка, автоматическое обнаружение неисправностей Низкие затраты на техническое обслуживание и ремонт
Условия:
Источник питания: 230 В (+6 0/0/-10 0/0 ) / 50 Гц (+/-1%)
Температура рабочей среды: 17-23С˚
Условия эксплуатации: Относительная влажность < 60% (без конденсата) Уровень шума: < 68 дБц
Постоянство работы прибора: непрерывная работа
Использование оборудования:
Электронный микроскоп в основном используется для анализа рельефа поверхности образцов.
Модель UOS 6900
Этап отбора проб Ручной Автоматический по оси X/ Y
Разрешение 3,0 нм (30 кВт)
Увеличение;
Тип электронной пушки Стержневая структура вилки для волос вольфрамовый катод
Напряжение ускорения 0-30 кВ, шаг от 0 до 10 кВ равен IOOV, шаг от 10 до 30 кВ равен 1 кВ
Линзовая система с тремя электромагнитными линзами (конус объектива)
Диафрагма объектива Для регулировки разрежения снаружи можно выбрать три диафрагмы
Ход x
X -0 -80 мм
Y -0 -60 мм
Z -0 -50 мм
T-5~90˚
Наблюдаемый образец: φ80 мм, максимальный образец φ 110 мм
Детектор SE-детектор, детектор BSE (опционально), рентгеновская энергодисперсионная спектроскопия (опционально), EBSD (опционально)
Вакуумная система Молекулярный насос + механический насос
Функция сканирования Метод сканирования: грань, линия, точка, выделение, сканирование с двумя детекторами. Поворот изображения, перемещение
Автоматический цифровой дисплей тока объектива, высоковольтный цифровой дисплей с динамической фокусировкой
Полноэкранное редактирование символов и меток
Увеличение, автоматическая коррекция рабочего расстояния, цифровой дисплей в режиме реального времени
Электрическое управление 1. ПК компьютер и кабинет операционной системы Операционная система Microsoft@ Windows@ XP/ 7 используется для управления всей системой программного обеспечения EM. Изображения можно в любое время сохранить на большом жестком диске или другом носителе информации в устройстве или распечатать непосредственно. Минимальная конфигурация ПК: процессор с частотой 3G; оперативная память DDR3 2G; 19-дюймовый ЖК-дисплей; высокоскоростной жесткий диск емкостью 500 г; стандартная клавиатура и мышь Logitech.
2. Модуль сбора изображений
Модуль собирает вторичные изображения и изображения с обратным отражением СЭМ. С помощью программного обеспечения видео может быть обработано для достижения 256 уровней серого цифрового квантования полезной амплитуды сигнала пользователя. Благодаря автоматической яркости, функции контрастности, функции автофокусировки, функции автоматического устранения астигматизма и новой функции просмотра в один клик работа с изображением упрощается.
3. Модуль отображения изображения
Модуль может реализовать максимальный режим отображения; изображение имеет 256 уровней серого, а слой изображения насыщенный и детализированный; символы можно редактировать и отмечать на изображении; увеличение может отображаться в реальном времени
можно отображать время, масштаб и ускоряющее напряжение; Отображать различные кривые в оттенках серого и несколько изображений для получения различных результатов обработки.
4. Модуль обработки изображений
Полевое программируемое логическое управляющее устройство может реализовывать функцию фильтрации аппаратной системы в режиме реального времени и обладает характеристиками малого объема, высокой скорости и надежной работы; и может реализовывать различные общие функции обработки изображений на полученном изображении в программной системе.
Программное обеспечение Electron operation для управления микроскопией на базе операционной системы Microsoft Windows XP/ 7, меню с панелью быстрого доступа, пользователи просто перемещают мышь и нажимают кнопку для выполнения следующих операций электронного микроскопа:
1. Высокое давление и регулирование высокого давления
2. Электрическая регулировка центровки
3. Коррекция астигматизма
4. Регулировка конденсатора
5. Корректировка цели
6. Регулировка яркости
7. Регулировка контрастности
8. Регулировка увеличения
9. Масштабирование изображения
10. Обычный метод сканирования поверхности
11. Выбор метода сканирования
12. Способ линейного сканирования
13. Метод точечного сканирования
14. Способ сканирования с двумя детекторами
15. Регулировка скорости сканирования
16. Реверс конденсатора
17. Переворачивание линз объектива
18. Электрическая регулировка вращения
19. Электрическая регулировка перемещения
20. Автоматическая регулировка яркости и контрастности
21. Автофокус
22. Автоматический астигматизм
23. Автоматическая нить накаливания
24. Управление параметрами электронного микроскопа
25. Управление замороженными изображениями
Размер упаковки основной коробки машины: 1060 мм x 1060 мм x 1900 мм
Коробка электрического шкафа: 1620 мм x 1460 мм x 1750 мм
Стандартные принадлежности
Основной узел сканирующего электронного микроскопа с вольфрамовой нитью
Электронно-оптическая система
1.1 Электронная пушка: включенный вольфрамовый катод
1.2 Детектор: детектор вторичных электронов
1.3 Помещение для отбора проб и сцена для отбора проб
2. Вакуумная система: турбомолекулярный насос, механический насос, вторичная насосная система
3. Электрическая система управления
3.1 Программная система управления работой электронной микроскопии
3.1 Персональный компьютер и операционная система (XP)
4. Запасные части (см. примечание)
4.1 Расходные материалы
4.2 Специальные инструменты
5. Вспомогательное оборудование для подготовки проб или другие детекторы
Расходные материалы:
1 Вольфрамовая нить накаливания- 10шт/коробка, одна коробка
2 чашки для образцов (PI 3, 10шт)
3 коробка для образцов-Ipc
4 углеродная двусторонняя токопроводящая лента 6 мм -1 комплект
5 вакуумных пластичных смазок-1 коробка
6 ткань без волос-10 штук, 7 выхлопная труба- 5 м
Специальные инструменты:
Шестиугольная рука
Чистящий стержень
Труборез Оптический разгрузочный пинцет
Отвертка
Настольная лупа с подсветкой
Мы предоставляем гарантию на наши станки и оборудование на один год, а также гарантийное обслуживание и сервис после окончания гарантийного срока. Мы заботимся о качестве и надежности наших продуктов, чтобы обеспечить нашим клиентам долгосрочную поддержку и уверенность в работе с нашим оборудованием.